Seminář ÚFE:  prof. RNDr. Jiří Spousta, Ph.D.

Zveme Vás na přednášku prof. RNDr. Jiřího Spousty, Ph.D. z Ústavu fyzikální inženýrství, Fakulty strojního inženýrství, VUT Brno

Vývoj multifunkčních AFM hrotů nové generace - tvorba a charakterizace povrchů a nanostruktur současně sledované v elektronovém mikroskopu a rastrovací sondou SPM (CPEM)

V našem světě hrají nanotechnologie stále významnější úlohu. Jejich přípravě, charakterizaci a hlavně využití je věnováno nemalé úsilí jak velkých technologických společností, high-tech firem, tak i výzkumných týmů celého světa. Na Ústavu fyzikálního inženýrství vznikla spin off firma Nenovision, která se úspěšně zabývá výrobou a vývojem mikroskopu LiteScope ke korelativnímu zobrazování povrchů vzorků pomocí rastrovací sondové mikroskopie (SPM - Scanning Probe Microscopy) a elektronového svazku (SEM - Scanning Electron Microscopy).

V přednášce budou představeny nové multifunkční sondy, které užití tohoto unikátního zařízení výrazně rozšiřují z oblastí charakterizace nanostruktur (měření topografie povrchu, lokální vodivosti vzorku, magnetické vlastnosti aj.) do oblastí jejich příprav a případných modifikací. Funkce vyvíjených sond nové generace je založena na využití dutých optických vláken, pomocí kterých lze do komory elektronového mikroskopu zavést pod hrot sondy světlo, plyn a napětí. Tímto způsobem lze výrazně navýšit užitné vlastnosti sond, jak bude jednoduchou formou v příspěvku prezentováno.